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梅特勒-托利多:用于测定颗粒粒度分布的筛分易巧称量件上市

作者:梅特勒-托利多(中国) 2012-04-10T00:00 (访问量:5273)

 

梅特勒-托利多:用于测定颗粒粒度分布的筛分易巧称量件上市
-- One Click™一键称量筛分分析解决方案
 

筛分易巧称量件是可放置在精密天平秤盘上的选配件,用于固定筛堆安全放置在天平正确的位置。
 

 

完整的
One Click™ 一键称量筛分分析解决方案
 

使用天平触摸屏上的
One Click™快捷键即可方便的启动方法。使用自动称量侦测,无需接触任何按键,筛子就能被连续称量。LabX在天平上提供了清晰的一步一步的指令,自动保存数据并进行计算。完整的解决方案专为您的流程需求而度身定制。

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2
3
4
5
一键启动任务
筛分
回称
结果
记录存档

通过触摸屏输入样品
ID。

通过
SmartTrac™指导样品称量。

声音信号提示下一步筛分。

显示分布的百分比。

所有数据被自动记录下来。
无需任何按键,称量所有空筛。
暂停任务,在筛分震动器上完成筛分。
自动计算出每个筛子所占质量的权重。
更多计算出的结果,例如尺寸d50网格筛子。
可随时打印定制的有图形曲线的报告。

 
详细信息,请访问梅特勒-托利多网站:
 
 
 

 


 


 

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